出版倉庫連絡協議会米国RFID視察 平成１５年５月２２日～５月３１日 報告書
平成１５年６月１２日 出版倉庫連絡協議会
目次
出版倉庫連絡協議会米国RFID視察について
出版倉庫連絡協議会米国RFID視察団　参加者
１．訪問先について
	1.1	MIT Auto-ID Center本部
	1.2	Matrix社
	1.3	Alien Technology Corporation
	1.4	PRADA New York Epicenter Store
２．総括
３．視察の詳細
	3.1	MIT Auto-ID Center本部（オートIDセンタ）
		3.1.1	はじめに
		3.1.2	RFIDタグに関する現状の６つの問題点・課題についての意見
		3.1.3	Auto-ID Centerのなりたち
		3.1.4	Auto-ID Centerの目標
		3.1.5	何故そのような目標が必要なのか
		3.1.6	どのようにそれを実現していくのか
		3.1.7	目標実現のために必要となること
		3.1.8	目標実現のための技術
		3.1.9	目標実現のための技術の標準化
		3.1.10	ビジネスアプリケーションへの適用
		3.1.11	ビジネスに応用可能なRFIDシステムの特徴
		3.1.12	RFIDタグの応用例について
		3.1.13	「SMART SHELF」テクノロジー　デモンストレーション
		3.1.14	質疑応答
	3.2	Matrix（メイトリックス）社
		3.2.1	はじめに
		3.2.2	メイトリックス社の戦略
		3.2.3	メイトリックス社の技術基盤
		3.2.4	主力製品であるUHF帯RFIDタグの紹介
		3.2.5	メイトリックス社UHF帯RFID製品の優位性（Advantage）
		3.2.6	UHF帯RFID製品の制約
		3.2.7	メイトリックス社のRFID製品
		3.2.8	製品の利用
		3.2.9	エイリアン社との比較
		3.2.10	デモンストレーション
		3.2.11	質疑応答
	3.3	Alien Technology Corporation（エイリアンテクノロジー）
		3.3.1	はじめに
		3.3.2	RFIDタグの製造コスト削減のための取り組み
		3.3.3	標準化への取り組み
		3.3.4	製品について
		3.3.5	書籍に向く製品
		3.3.6	今後の展開
		3.3.7	デモンストレーション
		3.3.8	質疑応答
	3.4	PRADA New York Epicenter Store（プラダ　エピセンタ・ストア）

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